陶瓷管座封装是IC芯片与微系统芯片的常见封装形式。其基本工艺流程为:
1) 划片
2) 在陶瓷基板上涂胶、贴片
3) 引线键合前清洗
4) 引线键合
5) 封帽
6) 可靠性测试
下面按照设计规范、操作流程、检验标准与检验实例三部分介绍。
1. 设计规范
(1)划片设计规范
Ø圆片尺寸:最大8英寸。
Ø划片槽宽度设计:普通硅片版图,槽宽大于等于100mm。键合硅片、玻璃片版图,槽宽大于等于500mm。版图图形一般最好离开划片槽边一定距离,避免划片时图形损伤。
Ø划片槽标识设计:标识应明显区别于版图图形,以便对准时能迅速准确找到划片槽。可根据需要选择不同的标识形式,如图1所示。
Ø图形步进尺寸应为10mm的整数倍,图形分布要有规律,最好步进尺寸一致。
Ø划片槽一定要贯穿整个基片,划片槽不可有交错现象。
图1. 划片槽标识设计
(2)有机胶贴片规范
描述 |
规则 |
粘接材料 |
封装专用环氧树脂 |
对准精度 |
£9mm |
固化温度 |
150°C |
固化时间 |
60分钟 |
热导率(121°C) |
0.5W/mK |
电阻率 |
3.5´1015W-cm |
剪切强度 |
按国家相关标准执行 |
(3)引线键合设计规范
描述 |
规则 |
|
标准 |
最小 |
|
压焊块材料 |
Au,Al |
Au,Al |
压焊块厚度 |
Al: ³5000Å Au: ³5000Å,Au下有³2000Å的粘附层,粘附层材料可以是Cr, Ni等 |
Al: 5000Å Au: 5000Å,Au下有2000Å的粘附层,粘附层材料可以是Cr, Ni等 |
压焊块边长 |
100mm |
50mm |
压焊块中心间距 |
150mm |
100mm |
引线键合方式 |
铝线楔焊,金线楔焊,金丝球焊,金带焊 |
|
线径 |
25mm |
|
线弧高度 |
250mm |
150mm |
(4)管座与封帽规范
描述 |
规范 |
管座 |
CDIP,CFP,CQFP,LCCC |
封帽方式 |
有机胶粘接 平行缝焊 |
平行缝焊管座 |
CFP F-16 (其他型号管座须提供夹具) |
平行缝焊盖板 |
0.1mm厚 |
(5)可靠性测试规范
Ø引线强度测试:³3克力
Ø平行缝焊漏率测试:采用氟油粗检和氦气精检
Ø冷热循环:按器件要求
2. 操作流程与检验标准
(1) 划片
Ø贴膜:用SEC3150贴膜机在圆片背面贴蓝膜
Ø设置刀片参数
Ø测高
Ø将样片放置在工作盘上,按C/T开启工作盘真空
Ø设置切割方式、切割形状、尺寸等参数
Ø校准基线
Ø设定切割面
Ø切割
Ø取片
(2) 管座上涂胶、贴片
Ø采用点胶机涂胶
Ø手动或半自动贴片
Ø固化:固化温度150°C,1小时
(3) 引线键合前清洗:等离子体清洗
(4) 引线键合:Westbond 747677E三用压焊机
Ø安装引线、劈刀,设置参数
Ø实验片拉力测试
Ø引线键合
(5a) 有机胶手工封帽
Ø涂胶:封装专用环氧树脂
Ø封帽
Ø固化:固化温度150°C,1小时
(5b) 平行缝焊封帽
Ø将管座与盖板放入进料箱中
Ø对进料箱抽真空/充氮气,共5个循环
Ø从工作台内打开进料箱,将管座放入夹具,盖上盖板
Ø启动机器进行平行缝焊
Ø将完成焊接的样品从工作台侧放入出料箱,关闭工作台侧的箱门
Ø打开出料箱门,取出封装后的样品。
(6)平行缝焊样品漏率测试
Ø氦气精检
-
在氦气下保压,压力和保压时间根据相关国家标准执行 -
取出样品,用氮气吹净样品表面 -
将样品放入氦质谱仪中 -
测量样品中氦气漏率,漏率应小于阈值,阈值根据相关国家标准执行
Ø氟油粗检
-
将芯片放入轻氟油中保压,压力为4个大气压,保压4小时 -
将样品放入装有重氟油的低温恒温槽中,如果出现明显的轻氟油油泡说明有漏气存在,否则即为通过测试。
(7) 环境测试(包括冷热循环、离心加速度等)
Ø将样品放入相应的试验箱中
Ø按照不同试验的试验标准设定程序
Ø按照设定试验程序执行
Ø试验结束,取出样品测试
3. 检验标准
(1) 划片:镜检
Ø划片崩边小于划片槽, 图形无损伤
(2)有机胶贴片:剪切力测试
Ø剪切力强度应达到国家相关标准
(3)引线键合
Ø检查试验片:引线拉力³3克力(f25mm金线或铝线)
(4)平行缝焊
Ø漏率达到相关国家标准
(5)环境测试:试验条件根据相关国家标准选择
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第七届陶瓷封装管壳产业论坛
The 7th Ceramic Packages Industry Forum
2023年11月30日
苏州
序 号 |
暂定议题 |
拟邀请企业 |
1 |
半导体陶瓷封装外壳仿真设计 |
拟邀请仿真设计专家 |
2 |
多层陶瓷集成电路封装外壳技术发展趋势 |
拟邀请陶瓷封装企业 |
3 |
光通信技术的发展及陶瓷封装外壳的应用趋势 |
拟邀请光通信企业 |
4 |
多层陶瓷封装外壳的生产工艺和可靠性设计 |
拟邀请陶瓷封装企业 |
5 |
多层陶瓷高温共烧关键技术介绍 |
拟邀请HTCC企业 |
6 |
电子封装用陶瓷材料研究现状 |
拟邀请材料企业 |
7 |
多层共烧金属化氮化铝陶瓷工艺研究 |
拟邀请氮化铝企业 |
8 |
HTCC陶瓷封装用电子浆料的开发 |
拟邀请导电浆料企业 |
9 |
多层共烧陶瓷烧结关键技术探讨 |
拟邀请烧结设备企业 |
10 |
陶瓷封装外壳的焊料开发 |
拟邀请焊材企业 |
11 |
电子封装异质材料高可靠连接研究进展 |
拟邀请陶瓷封装企业 |
12 |
厚膜印刷技术在陶瓷封装外壳的应用 |
拟邀请印刷相关企业 |
13 |
高精密叠层机应用于多层陶瓷基板 |
拟邀请叠层设备 |
14 |
陶瓷封装管壳表面处理工艺技术 |
拟邀请表面处理企业 |
15 |
激光技术在陶瓷封装管壳领域的应用 |
拟邀请激光企业 |
16 |
陶瓷封装钎焊工艺介绍 |
拟邀请钎焊设备企业 |
17 |
半导体芯片管壳封装及设备介绍 |
拟邀请封焊设备企业 |
18 |
全自动高速氦检漏系统在陶瓷封装领域的应用 |
拟邀请氦气检测设备企业 |
19 |
芯片封装壳体自动化测量方案 |
拟邀请检测设备企业 |
20 |
等离子清洗在高密度陶瓷封装外壳上的应用 |
拟邀请等离子清洗企业 |
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