日本产业技术综合研究所(AIST)的传感系统研究中心主任研究员平田研二、首席研究员秋山守人、主任研究员Anggraini Sri Ayu、研究员䕃浦泰资、主任研究员上原雅人、课题组长山田浩志,以及国立研究开发法人物质・材料研究机构的独立研究者新津甲大组成的研究团队,成功大幅提升了用于弹性波滤波器的氮化物压电材料的性能。

图 研究得到的ScAlN压电常数(左)及薄膜结构示意图(右)

智能手机等无线通信设备中,搭载了许多用于提取特定频率带信号的频率滤波器。其中一种目前主流的滤波器是弹性波滤波器,它配备了由压电材料制成的薄膜,薄膜的压电性能会影响所能提取信号的频率带。预计随着通信方式的发展,需要更高频率带的弹性波滤波器,因此对薄膜的压电性能提升提出了更高的要求。

目前,添加了钪(Sc)的氮化铝(AlN)薄膜(ScAlN)因其具有高压电性能,而被广泛应用于弹性波滤波器的压电材料。为了提高ScAlN的压电性能,需要高浓度地将Sc固溶于AlN中,但Sc与AlN的混合性较差,因此尚未能实现模拟中预测的压电性能。

此次,研究团队在ScAlN薄膜中引入了作为底层的镥(Lu)金属,以提高Sc的固溶量,成功获得了在氮化铝基压电材料中世界最高的35.5 pC/N的压电常数。通过此次研究方法和所获得的知识,预计在高频通信中使用的弹性波滤波器的性能将有显著提升。

此外,该论文《Enhancing the Piezoelectric Performance of Nitride Thin Films Through Interfacial Engineering》已于2025年1月15日在《Materials Today》上在线发布。DOI:10.1016/j.mattod.2024.12.011

図1

图 ScAlN的纤锌矿结构和Lu的六方密排结构

研究人员尝试在制备 ScAlN 薄膜时引入镥(Lu)金属底层来改善压电纤锌矿相的结晶度和取向。由于Lu具有与纤锌矿结构相同的六方晶体结构,因此有望在Sc添加量较高的情况下,Lu具有促进ScAlN结晶性和取向性维持的效果。

図2

图 ScAlN 薄膜横截面结构的电子显微镜图像(左:无 Lu 底层,右:有 Lu 底层)

其结果是,AlN中Sc的固溶体量增加至50.8mol%,而之前认为Sc的最大固溶体量为43mol%。所制备薄膜的横截面结构的电子显微镜图像证实,在具有Lu底层的ScAlN薄膜中,纤锌矿结构的结晶性和取向得到改善。当实际测量这些薄膜的压电常数时,获得了35.5 pC/N的压电常数,大大超过了2018年报道的41 mol% Sc固溶体31.6 pC/N的先前记录。与没有Lu底层的情况相比,该值更接近第一性原理计算预测的值,表明ScAlN的潜在压电性能已经实现。很明显,与其他 AlN 基压电材料相比,这是最高的压电常数。到目前为止,人们一直认为,由于在含有大量 Sc 的固溶体 ScAlN 中难以获得具有高结晶性和取向性的薄膜,因此 Sc 在压电常数中的增高存在极限这表明,通过发挥创造力,绩效仍有提升空间。

図3

图 ScAlN薄膜的压电常数与之前的实验值和第一性原理计算预测值的比较

図4

图 添加元素X的AlN中最大固溶量与压电常数的关系

该研究成果有望应用于提高高频通信中使用的弹性波滤波器的性能。此外,AlN的压电特性正在被考虑用于对自动驾驶至关重要的距离传感器,并且它还具有作为可提高传感器灵敏度的材料的潜力。研究团队计划致力于开发将更高浓度的 Sc 融入 ScAlN 薄膜的技术,并将其扩展到其他材料系统。

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作者 gan, lanjie